SIMU 为产品和测试工程师提供提供数据分析，快速提升良率及识别量产偏差。
SIMU 将标准的测试数据文件转为综合报告，让用户能交互式的深入数据进行根本原因的分析。
SIMU 的应用包括：
- 产品的测试数据分析比对
- 硬设备（tester/load board)相关信息分析
- 测试时间优化
- 产品良率提升及问题原因分析
通常工程师会用 SIMU 对新开发完成的样品进行数据分析，一但开始量产后，再利用 SIMU 进行分析诊断量产的偏差。面对数十亿笔数据及需要快速解决问题的需求，快速地进行数据分析及呈现结果是很重要的，也是 SIMU 所提供的。
- 易于使用-不需要学习复杂的程序语言及培训可立即获得良好的生产力
- 多功能-从产品设计到大量生产
- 可扩充性-可依用户需求弹性客制化报表及不同功能需求
Web Based Architecture
SIMU 基于 Web based 架构设计，提供更灵活、友好及弹性的用户接口及用户体验，不同平台上的浏览器皆可使用，有效降低了培训成本并提升营运效率，进而确保开发及维护顺利进行。SIMU 基于我们优秀的算法及架构体系，在快速呈现大量数据的需求上他非常出色。
Lot Tracking
在环环相扣的半导体产业链中，SIMU 不只是数据分析系统，亦能追踪产品在 WAT/CP/FT 的测试数据，提供完整的产品履历，用户能藉由产品履历及数据分析，达到提升产品质量及改善产品良率的目标。
Wafer Analysis
提供以 Yield / Bin / Parametric 不同面向的 wafer map, 用户能通过交互式接口依照不同需求, 堆栈特定的 wafer, 快速找出异常原因 , 并提供wafer by zone 分析方式, 计算不同区域中的良率及 Bin 分布, 进一步了解产品在不同阶段是否出现异常。
Shmoo History
透过数据汇入，纪录及储存每个设备的 Shmoo 数据，提供用户分析及判读，并显示细节及图表以供进一步分析，减少人员误判的机率；交互式接口，也能弹性化客制各项相关报表，符合使用需求。
Variance Detection
针对量产时的不同条件, 找出造成良率 / 产出不足的因素, 快速调整机台 / 设备 / loadboard / probecard 以提升效能，另外依照需求将产品分组或同产品不同批此进行数据分析比对，进行 A/B 测试，找出其中的差异性并针对其进行改善。
